Equipado con tecnología OLCR, el reflectómetro de alta resolución AQ7420 permite un análisis preciso de módulos ópticos y conectores, ofreciendo una resolución de 40 µm y sensibilidad de reflexión trasera de hasta -100 dB.
Alta precisión y tecnología avanzada para aplicaciones ópticas
El nuevo reflectómetro de alta resolución AQ7420, desarrollado por Yokogawa Test & Measurement Corporation, representa un avance significativo en el análisis de componentes ópticos.
Basado en la tecnología de reflectometría óptica de baja coherencia (OLCR), este dispositivo está diseñado para satisfacer las necesidades más exigentes en la investigación y producción de módulos ópticos, conectores de fibra y componentes relacionados.
Con una resolución espacial de 40 µm y una sensibilidad de reflexión trasera excepcionalmente baja, inferior a -100 dB, el AQ7420 se posiciona como una herramienta eficaz para identificar microfisuras en conectores ópticos y realizar análisis precisos de estructuras internas.
Además, cuando se combina con su unidad de cabezal de sensor opcional, permite la medición simultánea de la pérdida de inserción y la reflexión trasera, lo que lo convierte en un dispositivo rentable y versátil para el sector óptico.
Reducción de ruido espurio y precisión mejorada
El AQ7420 destaca por su capacidad para minimizar los ruidos espurios, un problema frecuente en dispositivos OLCR convencionales.
Los equipos tradicionales tienden a generar señales fantasma que dificultan el análisis preciso de las formas de onda, complicando las evaluaciones, especialmente para usuarios menos experimentados.
La tecnología avanzada del AQ7420 elimina en gran medida este fenómeno, mejorando la fiabilidad de los resultados obtenidos.
Otra innovación clave es la capacidad para medir simultáneamente la reflexión trasera y la pérdida por inserción.
A diferencia de otros reflectómetros que presentan limitaciones en la precisión del eje vertical, el AQ7420 garantiza mediciones con una incertidumbre de ±3 dB para la reflexión trasera y de ±0,02 dB para la pérdida de inserción, ofreciendo así una solución robusta para los desafíos técnicos del mercado óptico.
Eficiencia y opciones personalizables
El tiempo de medición también se ha reducido considerablemente en el nuevo modelo.
Comparado con su predecesor, el AQ7410, el AQ7420 ofrece resultados un 50 % más rápido, con un tiempo promedio de análisis de 6 segundos.
Adicionalmente, está disponible en dos configuraciones: una versión de longitud de onda simple (1310 nm) y otra de doble longitud de onda (1310/1550 nm), adaptándose a diversas aplicaciones industriales.
Para maximizar su versatilidad, el reflectómetro se complementa con software de control para Windows 11, cabezales de sensores dedicados y herramientas para ajustar posiciones iniciales de medición y calibrar con precisión diversos conectores.
Aplicaciones y mercados objetivo
Este dispositivo está orientado a empresas y organizaciones que investigan en fotónica de silicio, fabricantes de componentes ópticos y líneas de producción, así como compañías dedicadas al análisis de fallos en componentes ópticos.
Entre sus aplicaciones, destaca la detección precisa de reflexiones internas en módulos ópticos y conectores, así como la visualización de microfisuras invisibles con técnicas convencionales.
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